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Semihow超結MOS有效改善電(diàn)源EMI

在現代電子設備中,電磁幹擾(EMI)是一個不容忽視(shì)的問題。隨著電子產品的日益複雜和集成度的提高,EMI問題日益凸顯,對產品的性能(néng)和穩定性構成了挑(tiāo)戰。超結MOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor)作為一種先進的功率半導體器件,因其獨(dú)特的結構和性能,在改善EMI方麵展現出(chū)顯著(zhe)優勢(shì)。本文將探討Semihow超結MOS如何(hé)有效改善(shàn)EMI。

超結MOSFET技術(shù)概述

超結MOSFET,又(yòu)稱為Super Junction MOSFET或CoolMOS,是一種結合了溝槽工藝和多層外延工藝的新型功率(lǜ)MOSFET。相較於傳統VDMOS(Vertical Double-Diffused MOS),超結MOSFET通過在外延層中交替形成高阻的n型區和p型區,顯著降低了(le)單(dān)位(wèi)麵積的(de)特征電阻,從而減少了通態功(gōng)耗和開(kāi)關損耗。此外,超結MOSFET還具備更高的開關速度和更低的能耗,是(shì)高壓、大功率應用中的理想選擇。

Semihow超(chāo)結MOSFET改善EMI的機製

Semihow與三星(xīng)半導體(tǐ)合作(zuò)開發的超(chāo)結MOSFET產品,采(cǎi)用多層外延工藝,相比溝槽工藝,多層外(wài)延(yán)在EMI抑製方麵表現出色。具體機製(zhì)如下:

1. 多層外延結構減少寄生電容

多層(céng)外(wài)延工藝通過在外延層中多次掩刻和摻雜,形成(chéng)了複雜的n型和p型交替區域。這種結構(gòu)不僅降低了特征電阻,還(hái)顯著減少了寄生電容。寄(jì)生電容是EMI的主要來源之一,因為它(tā)會在開關過程中產生高(gāo)頻噪聲。超結MOSFET較小的寄生電容能有效降低開(kāi)關損耗,提高開(kāi)關速度,同(tóng)時(shí)減少EMI的產生。

2. 內置ESD保護二極管

Semihow超結MOSFET產品(pǐn)內置了ESD(靜電放電)保護二(èr)極管。這種二極管在器件受到靜(jìng)電衝擊時,能夠提供有(yǒu)效的保護路徑,將靜電電荷迅速釋放,從而避免對(duì)器件造成損壞。同時,內置ESD保護二極(jí)管還(hái)能提高浪湧的穩定性和(hé)靜電的可靠(kào)性,進一步減(jiǎn)少由靜電放電引起的EMI。

3. 優(yōu)化的開關特性

超結MOSFET由(yóu)於具(jù)有較(jiào)低的柵電容和較快的開關速度,在開關過程中產生的dV/dt和dI/dt較小(xiǎo),這有助(zhù)於減少通過器件和印刷電路板中的寄生電容電感產生的高頻噪聲。此外,Semihow通過精確控製製造工藝,確保了產品的開關特性一致性(xìng)和穩定性(xìng),進一步減少了EMI的產生。

應(yīng)用實例與市場反饋

Semihow的超結MOSFET產品已在多個領域得到廣(guǎng)泛(fàn)應用,包(bāo)括(kuò)三星、LG、華為、飛利浦、中(zhōng)興等知名企業的產(chǎn)品中。特別是在快充、電源、照明、顯示器等市場領域,Semihow的超結MOSFET憑借其優異的EMI性能和穩定的品(pǐn)質,贏得了客戶的廣泛認可。

例如,HCD70R600超結(jié)MOSFET是Semihow與三星半導體(tǐ)合作開(kāi)發的一款產品,導阻僅為0.6Ω,采用多層外延工藝,在快充及(jí)PD應用上EMI表現優秀。同時,該產品內置ESD二(èr)極管,防靜電能力好(hǎo),並擁有全球優秀的晶圓(yuán)生產品質管控(kòng)體係支持。

結論

Semihow超結MOSFET通過多層外延工藝和內置ESD保(bǎo)護二極管等先進技術,有效改善了(le)EMI問題。這種器件在(zài)高壓、大功率應用(yòng)中展現出顯著優勢(shì),不僅提高了產品的性能(néng)和穩定性,還滿足了現代電子設備對電磁兼容性的嚴格(gé)要求。隨(suí)著技術的不斷進步(bù)和應用領域的不斷拓展,Semihow超結MOSFET將在更多領域發揮重要(yào)作用,推動電子產(chǎn)業(yè)的持續發展。


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